干涉儀是很廣泛的一類(lèi)實(shí)驗技術(shù)的總稱(chēng)，其思想在于利用波的疊加性來(lái)獲取波的相位信息，從而獲得實(shí)驗所關(guān)心的物理量。干涉儀利用光的干涉，測定光程差或其他參量的儀器。根據光的干涉原理制成的一種儀器。
干涉儀的應用廣泛，主要有如下幾方面：
1、長(cháng)度測量
在雙光束干涉儀中，若介質(zhì)折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動(dòng)是由兩相干光幾何路程之差發(fā)生變化所造成，根據條紋的移動(dòng)數可進(jìn)行長(cháng)度的精確比較或絕對測量。邁克耳孫干涉儀和法布里-珀羅干涉儀曾被用來(lái)以鎘紅譜線(xiàn)的波長(cháng)表示國際米。
2、折射率測定
兩光束的幾何路程保持不變，介質(zhì)折射率變化也可導致光程差的改變，從而引起條紋移動(dòng)。瑞利干涉儀就是通過(guò)條紋移動(dòng)來(lái)對折射率進(jìn)行相對測量的典型干涉儀。應用于風(fēng)洞的馬赫-秦特干涉儀被用來(lái)對氣流折射率的變化進(jìn)行實(shí)時(shí)觀(guān)察。
3、波長(cháng)的測量
任何一個(gè)以波長(cháng)為單位測量標準米尺的方法也就是以標準米尺為單位來(lái)測量波長(cháng)的方法。以國際米為標準，利用干涉儀可精確測定光波波長(cháng)。法布里-珀羅干涉儀（標準具）曾被用來(lái)確定波長(cháng)的初級標準（鎘紅譜線(xiàn)波長(cháng)）和幾個(gè)次級波長(cháng)標準，從而通過(guò)比較法確定其他光譜線(xiàn)的波長(cháng)。
4、檢驗光學(xué)元件
泰曼干涉儀被普遍用來(lái)檢驗平板、棱鏡和透鏡等光學(xué)元件的質(zhì)量。在泰曼干涉儀的一個(gè)光路中放置待檢查的平板或棱鏡，平板或棱鏡的折射率或幾何尺寸的任何不均勻性必將反映到干涉圖樣上。若在光路中放置透鏡，可根據干涉圖樣了解由透鏡造成的波面畸變，從而評估透鏡的波像差。
